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【三相固态接触器宽温】固态硬盘高低温测试方法

作者:安尼      发布时间:2021-04-12      浏览量:0
高低温试验分为两种:温度循环和温度

高低温试验分为两种:温度循环和温度冲击。

注:“在低温到高温的过渡过程中,大量的霜会变成水滴,导致芯片管脚直接短路,导致SSD烧毁。所以测试过的SSD一定要加固防水! "

温度循环试验

温度循环是指设定温度从-50保持4小时,然后升至90,然后在90保持4小时,再降至-50,然后依次进行n个循环。

工业温度标准为-40C ~ 85C,因为温箱内通常存在温差。为了确保测试结果不会因温度偏差而不一致,建议使用标准温度5C进行内部测试。

测试过程:

1.断电状态下,先降温至-50C,保持4小时;

通电状态下不进行低温测试是非常重要的,因为芯片本身在通电状态下温度会高于20C,所以通常在通电状态下更容易通过低温测试,所以必须先“冻透”,再重新通电测试。

2.启动,测试SSD读写性能,对比常温下性能是否正常。

3.进行老化测试,看是否有数据对比错误。

4.进行断电测试。具体方法参考:

固态硬盘掉电测试的原理和要点

5.将温度升至90,并保持4小时。与低温测试相反,芯片内部的温度一直保持在高温。4小时后,执行测试步骤2、3和4。

6.高温和低温试验分别重复10次。

如果测试过程在任何时候都不能正常工作,就被认为是测试失败。

在市场上,有些人通常使用商业级温度产品进行筛选,然后将其用于工业用途。这种方法存在一定的潜在风险,筛选出来的产品在几个温度周期内都有很大的失效概率。另外,严格的宽温通常会失败,也有可能这个测试会通过,下一个测试会失败。

温度冲击试验

温度冲击是指在短短几分钟(或自定义时间)内从低温到高温的快速转变,以及从高温到低温的快速转变。

一般设定是从低温开始,从-50C到90C的温度转换时间小于3分钟,或者反过来用同样的测试方法从高温开始。

在温度转换过程中,您可以随时运行老化测试软件,观察快速温度切换过程中读写是否会出现数据比较错误。

具体测试标准可参考:

GB/T 2423.34、IEC 60068-2-38、GJB150.5等。